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応用情報技術者試験 の 5問
第1問
“技術のSカーブ”の説明として、適切なものはどれか。

応用情報技術者試験 の 5問
第2問
半導体製造プロセスが微細化することによって問題となってきたリーク電流の低減手段として、適切なものはどれか。

応用情報技術者試験 の 5問
第3問
図の論理回路において、S = 1、R = 1、X = 0、Y = 1のとき、Sをいったん0にした後、再び1に戻した。この操作を行った後のX、Yの値はどれか。

応用情報技術者試験 の 5問
第4問
SOAの説明はどれか。

応用情報技術者試験 の 5問
第5問
ペネトレーションテストの目的はどれか。

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